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多功能任意波高壓薄膜極化裝置真空晶圓退火爐電阻分壓器高壓探頭低頻、變頻電壓擊穿試驗儀絕緣電阻測試系統(tǒng) 多通道電流矩陣模塊鐵電分析儀高壓功率放大器塞貝克系數(shù)電阻測試儀先進功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 儲能新材料電學綜合測試系統(tǒng) 半導體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置高低溫冷熱臺測試系統(tǒng) 絕緣電阻率測試儀電壓擊穿測定儀 50點耐壓測試儀耐電弧試驗儀探針臺漏電起痕試驗儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

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HCDJC-1F5kV變頻電壓擊穿試驗儀

更新時間：2026-03-19

型號：HCDJC-1F

瀏覽量：256

華測儀器HCDJC-1F 5kV變頻電壓擊穿試驗儀是絕緣材料電氣性能檢測用升級設備，適配電力、電子、材料研發(fā)等行業(yè)，可測試絕緣材料在變頻電壓工況下的擊穿強度、耐電壓時間等指標。
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HC-RD-1100Seebeck 系數(shù)電阻測試儀

更新時間：2026-03-17

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：258

華測儀器HC-RD-1100Seebeck 系數(shù)電阻測試儀可自動完成信號激勵、數(shù)據(jù)采集、實時處理及結果輸出全流程，并通過可視化界面直觀呈現(xiàn)測試成果，提升了操作便捷性與測試效率。
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Huace多通道絕緣電阻測試系統(tǒng)

更新時間：2026-03-17

型號：Huace

瀏覽量：303

華測儀器多通道絕緣電阻測試系統(tǒng)是一款用于評估電子材料與元器件絕緣可靠性的信賴性試驗設備，是用于捕捉高溫、高濕、電場等復雜環(huán)境下，材料及元器件因離子遷移引發(fā)的絕緣電阻劣化過程。
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HCMP多通道介電電阻測試模塊

更新時間：2026-03-16

型號：HCMP

瀏覽量：240

華測儀器HCMP多通道介電電阻測試模塊主要用于評估材料的介電性能與電阻特性，可以搭載阻抗分析儀、高阻計等設備使用。
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HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數(shù)/電阻測試系統(tǒng)

更新時間：2026-03-12

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：329

華測儀器HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數(shù)/電阻測試系統(tǒng)該產品具有寬溫區(qū)覆蓋、高適應性、多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發(fā)、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。
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Huace離子遷移（CAF）評估系統(tǒng)

更新時間：2026-03-12

型號：Huace

瀏覽量：274

華測儀器離子遷移（CAF）評估系統(tǒng)離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。
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HC-RD-1100高溫塞貝克系數(shù)與電阻測試系統(tǒng)

更新時間：2026-03-11

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：276

華測儀器HC-RD-1100高溫塞貝克系數(shù)與電阻測試系統(tǒng)是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數(shù)和電阻率。
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HuaceSIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)

更新時間：2026-03-11

型號：Huace

瀏覽量：294

華測儀器SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)是通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經過長時間的測試，觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生。
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