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HCVD系列電阻分壓器

更新時間：2026-04-01

型號：HCVD系列

瀏覽量：190

華測儀器HCVD系列電阻分壓器提供了一種可測量100kVdc、200kVdc或400kVdc 的高電壓的簡便方法，其精度高于0.5%。此系列的分壓器要與高阻抗數字電壓表配合使用。
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Huace介質絕緣性能劣化評估測試系統

更新時間：2026-03-25

型號：Huace

瀏覽量：222

華測儀器介質絕緣性能劣化評估測試系統通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現象的影響。
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HCMP多通道介電絕緣電阻測試模塊

更新時間：2026-03-24

型號：HCMP

瀏覽量：182

華測儀器HCMP多通道介電絕緣電阻測試模塊此測試模塊精度高、穩定性強、實現智能化與自動化、可靠耐用、模塊化設計，可用于多通道介電與電阻測量，使其在材料科學、新能源、半導體領域中被普遍應用。
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HuacePEA 空間電荷測試系統

更新時間：2026-03-23

型號：Huace

瀏覽量：204

華測儀器PEA 空間電荷測試系統電聲脈沖法是一種無損的空間電荷測量技術，它用于描述聚合物絕緣材料內部的空間電荷分布、積累及其整體行為。
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HC-RD-1100熱電材料Seebeck 系數電阻測試儀

更新時間：2026-03-20

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：227

華測儀器HC-RD-1100熱電材料Seebeck 系數電阻測試儀測量半導體、方鈷礦等熱電材料的塞貝克系數與電導率，計算ZT值(熱電優值)；評估材料在高溫或特定環境(真空/還原氣氛)下的熱電轉換效率。
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Huace絕緣材料離子遷移評估系統

更新時間：2026-03-20

型號：Huace

瀏覽量：215

華測儀器絕緣材料離子遷移評估系統，離子遷移是電子設備失效機制之一，指電路板上的銅、銀、錫等金屬離子在高溫高濕及電場作用下發生離子化，通過絕緣層向另一極遷移，而導致絕緣性能下降、短路等故障。
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HCDJC-1F變頻耐壓擊穿試驗系統

更新時間：2026-04-07

型號：HCDJC-1F

瀏覽量：273

華測儀器HCDJC-1F變頻耐壓擊穿試驗系統可測試絕緣材料在變頻電壓工況下的擊穿強度、耐電壓時間等指標。
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Huace多通道離子遷移評估系統

更新時間：2026-03-19

型號：Huace

瀏覽量：220

華測儀器多通道離子遷移評估系統離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。
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