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| 品牌 | 華測儀器 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
HC-Q37a低頻高壓介電常數介質損耗測試儀系統
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
HC-Q37a低頻高壓介電常數介質損耗測試儀系統由華測儀器生產，全套系統是基于電介質介電響應理論，集介電響應測試與絕緣狀態評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統，手動與自動模式都操作簡便，軟件輔助試驗準備，執行和趨勢分析；能提供完整的測量系統，包括：標準電容，標準損耗器、測試電極；能測量不同頻率下的類型絕緣材料介電常數及損耗；系統采用高壓功率放大器及鎖相放大器技術。
產品參數
耗散因數(tanδ)：0 ~ 100；顯示分辨率：1x10-7
功率因數(cosφ)：0 ~ 1；顯示分辨率：1x10-6
電容：≤10nF(1kHz)
≤1uF(50Hz)
電感：≤ 1 kH
測試電壓：2000V
測試電流@輸入Cn：1pA~ 100 mA
測試電阻：上限100TΩ
測試頻率：1mHz~10kHz
運行溫度：-10~50℃
存儲溫度：-20~50℃
濕度：5~95％相對濕度，不結露
應用領域
例行試驗和型式試驗
電力電纜和附件
固體和液體絕緣
旁路電感
互感器
電容
套管
其他
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